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随着扇出晶圆级封装 (fo-wlp) 技术的重大进展,未来芯片封装将不再使用传统的芯片载体,以进一步降低芯片封装的厚度。但是,随着包装的厚度越来越薄,许多物理问题也开始出现。从包装的角度来看,其加工的被动组件,裸露的晶体和其他组件的厚度只会越来越薄,同时变得更加脆弱。拆卸时的力控制必须非常小心,否则会影响组件。受外力冲击损坏。据统计,封装过程中组件损坏的头号杀手是对组件拆卸和释放的力控制不当,有时这个问题不会立即出现,直到芯片封装进入后期制造过程才会慢慢被发现。
除了组件变得越来越薄和脆弱之外,组件的尺寸也变得越来越小,从而使机器在处理这些组件时必须具有更高的精度。例如,未来嵌入式无源元件的尺寸将减小到0201m,相当于0.25 × 0.125毫米。
以上两种发展趋势对机器的设计是一个很大的考验。首先,必须仔细挑选和放置组件。机械臂的运动速度不能太快,但必须考虑到机器的吞吐量,否则会拖累生产效率。增加了包装行业的生产成本。
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? VRRM (V) 20 IO (mA) 500
? VF Max (V) 0.5 IR Max (?A) 50
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